XT-50 夏比投影（yǐng）儀
一、概述
隨著國內工業技術的發展，越來越（yuè）多（duō）的行業已（yǐ）經（jīng）開始執行《金屬夏（xià）比衝擊試驗方法》該標（biāo）準對試樣要求相當（dāng）嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是（shì）否合格會直接影響終的試驗結果。如果試（shì）樣加工質量不合格，那麽（me）其試驗結果是不可信的（de），特別是（shì）試樣缺口的微小變化可能（néng）會（huì）引起試驗結果的巨（jù）大（dà）陡（dǒu）跳，尤（yóu）其是在試驗的（de）臨（lín）界（jiè）值時（shí），會引起產品的合格或報廢兩種截（jié）然相反的不同結局。為保證試（shì）樣（yàng）缺（quē）口的合格，其質量（liàng）檢驗是（shì）一（yī）個（gè）重要的控製手段，目前，用光學投（tóu）影放大檢驗是切實可行的方法。
XT-50型衝擊試（shì）樣投（tóu）影（yǐng）儀是我（wǒ）公司根據廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬（shǔ）夏比衝擊試驗方法》中對衝擊試樣缺口的要求而開發的一種專用於檢驗夏比V型和U性型缺口（kǒu）加工質量（liàng）的光學儀器，該儀器是利（lì）用（yòng）光學投影方（fāng）法將被測的衝擊試樣V型和U型缺口輪（lún）廓放大50倍後（hòu）投射到投影屏上（shàng），與投影屏上的衝擊試樣V型和U型缺口標準樣（yàng）板圖對比，以確定被檢測的試樣（yàng）缺口是否合格。其優點是操作簡便，對（duì）比直（zhí）觀。
二、工作原理：
根據（jù）需要，本儀器為（wéi）單一投射照明，光源通過一係列光學元件（jiàn）投射在工作台上，再通過一（yī）係列光（guāng）學（xué）元件將被測試樣缺口（kǒu）輪廓（kuò）清晰（xī）的（de）投射到投（tóu）影儀上。物體經二次（cì）放大和（hé）二次（cì）反射（shè）成正像，在投（tóu）影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一（yī）致。
本投影儀（yí）光源（yuán）發出的（de）光線經聚光鏡照射到被（bèi）測物體，再經物鏡將被照（zhào）射物體放大的輪廓（kuò）投射（shè）到投影屏上。
三（sān）、主要（yào）參數：
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投影（yǐng）屏直徑：
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180mm
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工作（zuò）台尺寸：
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方（fāng）工作台（tái）尺寸：
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110×125mm
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圓工作台直徑：
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90mm
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工作台玻（bō）璃直徑：
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70mm
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工作台行程（chéng）：
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縱（zòng）向：
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±10mm
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橫向（xiàng）：
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±10mm
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升降：
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±12mm（無刻度）
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工（gōng）作台轉動（dòng）範圍：
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0-360°（無刻度）
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放大倍數：
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儀器（qì）放大倍率：
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50X
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物鏡放大倍率：
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2.5X
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投影物鏡放（fàng）大（dà）倍率：
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20X
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光源（鹵鎢燈）：
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12V 100W
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外形尺（chǐ）寸：
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515×224×603mm（長×寬×高）
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重量：
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約18Kg
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